数字电路部分扫描可测性设计方法的研究

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该文对部分扫描的触发器选择作了深入的讨论,在原有的基于状态密度的扫描触发器造反的方法上作了改进,提出了一种改进的基于电路触发器对可控性贡献的扫描触发器选择方法.同时,该文提出了新的基于邦联观察和组合测试生成的角发器的两种故障可观性测度,并根据这两种邦联可观性测度提出一种新的扫描角发器选择的方法.研究人员也分析了扫描角发器对电路时序特性的影响,并根据对时序特性的影响提出了一种新近全扫描的部分扫描触发器的选择方法.在以上三种扫描触发器选择方法的基础上,该文提出了一种综合的,根据故障要控性和可观性的扫描触发器选择方法.
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