PDP,即等离子显示板,是一种利用稀有气体放电(形成等离子体)产生紫外线,激发涂覆在显示单元内的荧光粉发光来进行显示的技术。它具有视角宽,刷新速度快,光效及亮度高,易于制作大屏幕,工作温度范围宽,无扫描线扫描,图像清晰稳定无闪烁,辐射小等很多优良特性,是当前主流的平面显示技术之一。它采用等离子管作为发光元件,通过在管子两端的电极上加入电压,使放电空间内的混合惰性气体电离成电浆状态,同时发生等离子体放电的现象。气体等离子体放电产生紫外线,紫外线激发荧光屏,荧光屏发射出可见光,显现出图像。因此PDP电极的电气性能及其通断情况是影响PDP的图像显示效果的一个重要因素。然而PDP电极的制作材料,工艺制程都较为复杂。以当前业界常用的三电极表面放电型为例,其电极主要分为透明电极(ITO电极)、汇流电极(BUS电极)和地址电极(ADD电极)。三种电极的物理性质,尺寸结构都有所不同,在生产过程中由于受原材料、生产设备、工艺水平和生产环境等因素的影响,会不可避免的出现各种各样的缺陷,造成人力、物力资源的浪费。并且随着PDP显示技术的发展,PDP电极的宽度和间距越来越细密,增大了这些缺陷产生的几率,而在PDP电极缺陷中,断路和短路缺陷是最为常见,发生概率最高,造成质量影响最大的缺陷之一,因此对PDP电极的通断进行快速准确的检测显得尤为重要。当前PDP电极通断检测的主要手段有人眼目视检测,探针接触式检测,涡流检测,计算机光学检测,X射线检测,涡流检测,电容耦合非接触测试等方法,各种方法各有优劣。选择合适的检测方法,对PDP电极通断情况进行快速准确的检测有着重要的意义。本文从PDP的制造工艺出发,对PDP的结构,电气性能,PDP电极的制程以及在生产制造中有可能产生的电极缺陷做了介绍,并分析了缺陷产生的原因。通过以上分析,根据当前PDP电极通断检测的各种方法及测试原理,针对ITO,ADD,BUS电极的不同工艺和PDP玻璃基板本身怕压,易受损伤、污染的特性,选用探针接触式测试和电容耦合非接触测试对PDP电极进行通断检测。以对使用这两种测试方法的PDP通断测试系统的参数选定和系统设计进行了一定的分析,并通过PSPICE仿真验证了分析和方法的正确性。