随着电子工业的飞速发展,高速、高集成度的微电子器件得到了广泛应用,使得现代电子设备对静电放电越来越敏感。静电放电给各种微电子器件和电子系统带来的危害越来越严重,已成为急需解决的重要科技问题之一。如何在大规模电子产品生产过程中控制和预防静电对电子产品的损坏成为当今电子工业界比较关注的问题。本文从静电的产生开始,通过对静电放电过程的研究,分析了静电放电的主要失效模式和对电子元器件造成破坏的失效机理,并介绍了四种主要的ESD放电模式。在此基础上,本文进一步对典型的几种ESD防护电路和器件进行了相应的分析和评价。随后本文对静电放电抗扰度试验进行了全面的介绍。本文针对威胜集团有限公司的DDZY102型单相费控智能电能表进行静电放电抗扰度试验,通过分析表计在试验过程中所表现出的不合格特征,分别从外壳单元和电子单元两个不同的方面提出了针对性的改进方案。外壳单元的静电防护设计以屏蔽和隔离作用为主,而电子单元的静电防护设计以吸收、消除、屏蔽作用为主。试验证明,这些改进方法起到了很好的静电防护作用,有效的解决了表计在试验过程中所存在的问题。