电子器件的内部噪声(特别是以1/f噪声为代表的低频噪声)是制约器件灵敏度和检测精度的一个关键指标,同时也是表征器件质量和可靠性的一个重要敏感参数。因此,对电子器件内部噪声参量的提取和分析有着重要的工程意义。本论文的主要工作及结论如下:1、根据实验室实际测试电子器件低频噪声的参量分析需要,对实验室的原器件低频噪声谱全参数拟合软件进行了优化,采用首先寻得转折频率f 0的方法,拟合含g-r成份的低频噪声谱,精确提取了其中的6个参数,其拟合优度比原拟合软件得到的结果提高了3个百分点。2、小波非常适合对1/f噪声的分析。虽然MATLAB带有小波分析工具箱,但用它来专门分析器件噪声,不仅很繁琐,而且可行性也不理想。我们基于MATLAB的GUIDE平台开发了第一版电子器件噪声的小波分析软件WAEN 0.1 ( WAEN: Wavelet Analyzer for Electronic Noise ),把噪声的小波分析方法都集成在WAEN 0.1上,并具有很好的面向用户的友好操作界面。3、长程相关性是指信号在相隔较远的两点仍然相关的特性,长程相关性是1/f噪声的一个特点。但由于在证券市场、网络通信数据流和DNA序列等领域都出现了长程相关性,目前研究长程相关性的领域主要集中在这几个领域。我们把其他领域研究者研究长程相关性的方法引用到我们的1/f噪声中分析其长程相关性,分析挑选出效果较好的方法DFA,准确地估计噪声信号的Hurst指数,表征了噪声信号的长程相关性的强弱。