随着近年移动设备搭载的摄像头个数持续增加,CMOS图像传感器的市场情况持续火热。虽然目前的图像处理技术已经有了很大的提高,但由于一些客观原因的存在,总会使得采集的原始图片中存在一些坏点,极大地影响了图片质量。因此本课题将对CMOS图像传感器的坏点校正问题展开研究。本文基于图像传感器中坏点的特性,采用先进行静态坏点校正再进行动态坏点校正的方式,对图片中可能存在的坏点进行处理。其中静态坏点校正处理3×3的坏点簇情况,动态坏点校正处理单个坏点的情况。对于静态坏点,首先通过比对静态坏点表来检测坏点,然后采用均值校正对坏点进行替代;对于动态坏点,首先进行图像边沿外扩,然后采用相关邻域像素对坏点进行检测,最后引入方向梯度的计算对坏点进行均值校正。与相关坏点校正算法比较,本文设计的算法具有计算量少、图像保边性强、可校正坏点类型多等优势。在硬件实现的过程中,本文基于项目的需求对算法进一步优化,采用并行模块的流水线操作,合理分配片上资源,并对设计的两个模块进行了系统级的UVM仿真验证。本设计提高了坏点校正处理的效率,具有良好的保边特性。最终采用HL55lp工艺对两个模块进行了DC综合,两个模块一共使用了75.875 KB的片上存储,最高时钟频率达到120MHz,总功耗为233m W,总占用面积为2.11mm~2。采用本课题设计的两个模块的芯片产品已实现流片。