中国的半导体分立器件产业在全球大市场中占据着举足轻重的地位，并长期保持着持续、快速、稳定的发展。半导体分立器件测试系统是保证分立器件产品质量、提高生产效率及增强分立器件厂商核心竞争力的重要手段。在整个半导体分立器件行业中，关于它的研究与开发一直占据着重要地位，推动着整个产业的发展。由此看来，研发分立器件测试系统有着深远的意义。本文着重分析晶闸管直流参数的测试方法，并实现其自动化测试。本文首先详细分析了晶闸管的各个直流参数的测量方法，并给出了各个参数相应的测试电路原理图。其次，本文介绍了测试平台的硬件总体构成和软件实现，主要硬件构成包括电源部分、核心板（CPU）、高压板（HVB），时间参数测试板（TFB），以及低压恒压源/恒流源板（LVB），并介绍了各个功能板的设计技术指标。接着，讲述了上位机和下位机的层次结构与功能结构，介绍了上位机与下位机之间的通信过程，说明了自动测试的优势，重点讲述了图形化编程的流程。详细介绍了PIB板的设计方案，讲解了其中的关键电路，并列出了单板的测试数据。最后，讲述了本测试系统测试器件的具体测试流程，并对晶闸管2N2322的各个参数进行实际测试，最终得到实验测试结果。本设计完成了晶闸管直流参数的自动化测试系统的设计，该测试系统在精度、速度以及成本方面都能很好地满足要求，并且该系统可以应用在半导体分立器件的出厂测试上。