随着集成电路设计和制造技术的不断进步,大规模集成电路的快速发展。集成电路设计方法深化,给测试技术带来很大的挑战。芯片测试成本在最终IC产品是没有附加值的,但纵观整个封装测试过程,芯片测试成本要占总成本的50%到60%。因此,可以说半导体行业面临的一个巨大挑战就是如何降低测试成本。为此半导体厂商纷纷引进较为先进的测试机,改进测试程序,提高测试效率,从而降低测试成本。本课题完成了FLEX测试平台下PCU₀3芯片A/D转换模块的测试程序开发工作。本文在总结国内外A/D转换器性能测试的基础上,深入研究了A/D转换模块的测试理论和测试算法,给出了A/D转换器的静态参数的计算方法,并对A/D性能参数测试算法进行了改进,并将正弦直方图算法引入到测试中。采用VBT语言编程实现算法。通过大量的实验验证表明该设计方案合理、可行;并采用SPC软件对大量的测试数据采集、处理、分析,结果表明:测试效率提高到原来的两倍,稳定性也有了明显的提高。在本课题中,为A/D转换器测试提出了一些具有指导意义的改进措施和方法。该课题的完成,不仅大大降低了测试成本、为公司带来巨大的经济回报,而且为今后的测试程序开发、移植提供了宝贵的经验和借鉴。