瞬态电压抑制二极管(Transient Voltage Suppression Diode)简称TVSD。它是为了解决电子设备中电路通断、静电放电以及电磁干扰产生的电压瞬变和电流浪涌等问题而设计出的一种高性能保护用器件,是电子电路中最重要的电子元器件之一,已广泛地应用于各种民用和军用电子产品中。特别是在航天、航空和军用装备等领域的应用中,对其可靠性的要求已变得越来越高了。产品在使用时发生失效,可能会造成非常严重的损失,甚至于会造成人员伤亡。而可靠性筛选可以发现工艺不良情况或缺陷产品,剔除具有潜在缺陷的零部件或产品,淘汰早期失效期产品,降低提交批产品失效率,协助完善产品的设计和生产工艺控制,提高产品的质量和可靠性水平。可靠性筛选是现代高科技电子产品生产中普遍采用的一种质量与可靠性保证方法。本文正是针对瞬态电压抑制二极管的可靠性筛选问题,以设计研发、批量生产、维持与改进等阶段中可靠性筛选的应用为主要研究对象,在深入分析瞬态电压抑制二极管可靠性筛选的基本原理、作用和条件的基础上,对瞬态电压抑制二极管的零部件可靠性筛选、封装前的可靠性工艺控制、封装后的可靠性筛选、可靠性筛选程序、使用可靠性等问题作了创新性和探索性的研究。