随着微电子技术的发展和半导体制造工艺的不断进步，集成电路的特征工艺尺寸得以大幅度的缩减，其对故障的敏感性也相应随之提高。SRAM型FPGA具有开发成本低，系统功耗小等优点，目前被广泛应用于航空航天系统当中，而太空的辐射环境中存在各种各样的高能粒子，极易使SRAM型FPGA产生单粒子翻转（SEU）效应，导致系统运行异常。因此FPGA的容错方法研究具有重要意义。为了提高FPGA运行的可靠性，本文针对SRAM型FPGA的SEU故障进行了容错方法的研究。首先，设计并搭建了以Virtex-5FPGA为核心器件的演示验证平台，用于验证容错方法的可行性并对容错效果进行分析。其次，研究了配置信息的格式和启动回读命令的组成原理以及配置数据帧的寻址方式，采用配置数据回读与比较的方法实现故障检测。最后，基于FPGA动态可重构技术的思想，设计了动态可重构系统，采用动态全部重构和动态部分重构两种方法来实现FPGA配置存储器中SEU故障的修复。通过在本文设计的演示验证系统上的实验，分析结果表明，基于配置信息回读与比较的故障检测方法能够检测到FPGA配置存储器中100%的SEU故障，并能对故障进行定位。基于动态可重构的故障修复方法能够修复FPGA配置存储器中发生的所有SEU故障，与动态全部重构技术相比，动态部分重构技术能够降低故障修复时间，提高故障修复效率。将以上故障检测和故障修复方法相结合，能够实现SRAM型FPGA中SEU故障的在线容错。