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本试验是对微波器件工作状态可靠性评价技术的探索,采用了与器件微波工作状态一致的试验技术,简化了试验设备,提高了设备可靠性.
硅微波功率晶体管动态加速寿命试验研究
【摘 要】
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本试验是对微波器件工作状态可靠性评价技术的探索,采用了与器件微波工作状态一致的试验技术,简化了试验设备,提高了设备可靠性.
【作 者】
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【机 构】
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信息产业部电子55所
【出 处】
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第九届全国可靠性物理学术讨论会
【发表日期】
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2001年6期
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