偏压对ZrO2薄膜相结构及光学性能的影响

来源 :第二届中国西安纳米科技研讨会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:zhang123gang
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研究了射频反应磁控溅射制备ZrO2薄膜中,偏压对薄膜相结构及光学性能的影响。实验发现,随直流偏压的增加,在玻璃和单晶硅基片上淀积的ZrO2薄膜,其相结构变化出现差异,且均为多晶和非晶的混合相结构。在单晶硅基片上,当偏压高于-80V时,生成Zr-O-Si相。这主要与偏压升高后反溅作用增强有关。在高偏压下,ZrO2薄膜由平均晶粒大小在50nm的等轴晶组成,并成网格状分布。ZrO2薄膜的透射率随偏压的升高而增大,但均低于未加偏压时的透射率。
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