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在用透射电子显微镜分析块状、圆形材料的表层组织形貌、结构时,薄膜样品的制备难度较大。本文介绍了一种与传统块状样品预减薄方法稍有不同的新方法,将传统方法的单片试片改用多片试片固定于厚玻璃片上,并将试片之间含有表层组织的自然边置于中间接缝处。按此方法进行样品预减薄经实际应用证明,是一种行之有效的方法。