钽电容器和独石电容器的应用中的失效分析

来源 :2001年全国电源技术应用研讨会,2001年全国电子元器件应用研讨会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:wumingxiaoziwoaini
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通过对钽电容器和多层独石瓷介电容器的几个失效分析实例,得出以下结论:(1)钽电容器使用中常见的失效现象是焊接不当,导致内部焊锡流动引起短路失效,应引起起装机工作人员高度重视;(2)通过分立元器件的解剖方法结合详细的测试分析,找出独石瓷介电容器内部的质量问题在于介质中的缺陷,导致电极材料局部突起,以至发生离子迁移或短路失效.
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