嵌核系统芯片的测试

来源 :中国电子学会电路与系统学会第十六届年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户：sdliule

【摘要】

：

亚微米和深亚微米技术的发展使在一个芯片上集成一个复杂的系统成为可能,为提高系统的设计效率,在功能模块复用概念基础上产生的知识产权核(IP core)逐渐广泛地被使用.这种带

【作者】

：

黄维康熊志平张美玉周瑞华

【机构】

：

上海复旦大学电子工程系

【出处】

：

中国电子学会电路与系统学会第十六届年会

【发表日期】

：

2001年期

【关键词】

：

系统芯片测试知识产权核深亚微米技术设计效率模块复用概念基础制造集成功能方法

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亚微米和深亚微米技术的发展使在一个芯片上集成一个复杂的系统成为可能,为提高系统的设计效率,在功能模块复用概念基础上产生的知识产权核(IP core)逐渐广泛地被使用.这种带有知识产权核的系统芯片通常称为嵌核系统芯片.这种芯片的测试比传统的制造在印板上的系统(SoB)的测试更为困难.本文概述嵌核系统芯片测试的主要问题和一些可能的解决方法.

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