【摘 要】
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讨论了北京谱仪(BESIII)飞行时间探测器(TOF)前端电子学的物理需求,因为光电倍增管信号是前端电子学实际使用的信号,所以本文研究了以光电倍增管信号作为信号源测试电子学性能的方便易行的方法,测试结果表明现行设计的电子学的性能已达到了BESIII飞行时间探测器对电子学的预期目标。
【机 构】
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高能物理研究所 北京 100049 中国科技大学近代物理系快电子学实验室 合肥 230026
【出 处】
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第四届中国核学会省市区“三核”论坛
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讨论了北京谱仪(BESIII)飞行时间探测器(TOF)前端电子学的物理需求,因为光电倍增管信号是前端电子学实际使用的信号,所以本文研究了以光电倍增管信号作为信号源测试电子学性能的方便易行的方法,测试结果表明现行设计的电子学的性能已达到了BESIII飞行时间探测器对电子学的预期目标。
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