老炼筛选相关论文
摘 要：晶体管经过功率老炼后，有些电参数会出现漂移，有些较大的漂移会严重影响晶体管的性能。本文主要介绍晶体管功率老炼的原理，发生......
本文从统计计算的角度出发，提出了设备老炼试验数据情形可靠性评估方法。对于不完全数据利用等分位点数据填充方法转化为完全数据后......
本文主要讲叙了电子元器件的失效机理和失效模式，据此介绍了当前相应的老炼方法，并阐述了老炼方法的实现。......
为保证航天任务中短波红外线阵探测（SWIR）的可靠性与稳定性，本文针对Xenics公司的商用短波红外线阵探测器，设计了可同时进行10片探测器......
本文提出了一种基于阿伦尼斯加速模型的老炼筛选加速方法，在元器件失效机理不变的情况下，进一步加大应力，缩短筛选时间。通过理论分析......
将含有早期故障的产品销售出厂,会严重地影响产品的使用可靠性乃至企业的信誉.如何把产品的早期故障排除在出厂之前,是生产企业非......
提出了一种可以在试验台上进行无条件的筛选、或对已装机而又存在某种隐患的功率管进行老炼筛选的方法，并介绍了如何进行老炼筛选应......
随着半导体技术的飞速发展，市场的需求不断地将产品的性能推到了其技术极限，集成电路可靠性试验的重要性逐渐显现。老炼筛选试验作为......
老炼筛选试验是有效剔除内含固有工艺缺陷的半导体器件,以及保证半导体器件使用可靠性的重要途径。本文阐述了半导体器件早期失效......
