内嵌芯核相关论文
深亚微米技术的进展允许在单一芯片上设计一个完整的电子系统,这就是系统芯片,也称片上系统(SOC).为了提高SOC的设计效率和缩短SOC......
以减少系统芯片(SOC)测试时间为目标,研究了基于内嵌芯核分簇的并行测试结构配置与规划问题.以求解多处理器规划问题为模型,分析了......
阐述了系统芯片(SoC)测试相比传统IC测试的困难,SoC可测性设计与测试结构模型,包括测试存取配置、芯核外测试层,以及测试激励源与......
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