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研究了用搭建的马赫-曾德干涉仪光路和LBA—PC模式分析仪组成的观测系统，对掺铁铌酸锂晶体光写入平面光子晶格折射率调制度的分布进行观测的方法。利用CCD记录下晶体在平面光子晶格写入前后的像面投影图和全息干涉图，通过模式分析仪再现出其反映平面光子晶格折射率调制度分布的相位图信息，进而测出条纹变化量和条纹间距，从而实现对掺铁铌酸锂晶体光写入平面光子晶格折射率调制度分布的实验观察并测量。