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利用SEM和反光显微镜研究铝质电瓷断口分形特征，采用改进小岛法测量断口分维值，结果表明：电瓷断口具统计意义分形，不同放大倍数测得断口分维值不同。分维值与电瓷强度的关系为低倍数下呈负相关，高倍数下呈正相关。分维值受图像灰度阀值、测量方法影响。
铝质电瓷断口分形研究与分维测量
【摘 要】
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利用SEM和反光显微镜研究铝质电瓷断口分形特征，采用改进小岛法测量断口分维值，结果表明：电瓷断口具统计意义分形，不同放大倍数测得断口分维值不同。分维值与电瓷强度的关系为低
【机 构】
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西安科技学院材料科学与工程系
【出 处】
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绝缘材料
【发表日期】
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2002年5期
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