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用大束流密度的钼金属离子注入硅,能够直接合成性能良好的薄层硅化物。随着束流密度的增加,硅化钼生长,薄层硅化物的方块电阻Rs明显下降,当束流密度为0.5A/m^2时,Rs达到上值90Ω,说明连续的硅化物已经形成。X衍射分析结果表明,注入层中形成了3种硅化钼Mo3Si、Mo5Si3和MoSi2。经过900℃退火后,Rs下降至4Ω,电阻率可小到0.16μΩ.m,说明硅化钼薄层质量得到了进一步的改善。大束