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在高能闪光照相技术中，高能X 射线的能谱测量一直是一个难点。在以往研究方法的基础上，指出控制散射的影响程度是提高能谱测量精度的关键。提出采用圆形阵列法对X 射线能谱进行测量，并针对一特定能谱的X 射线设计了测量装置，蒙特卡洛模拟结果表明，可以将散射的影响控制在4％以内，这对提高能谱测量精度具有十分重要的意义。