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在计算机的使用中,发现E^2PROM芯片出现数据丢失问题,导致计算机无法正常工作。通过对E^2PROM的失效分析,其结果表明,故障的原因是芯片失效所致。经试验验证分析,确定该E^2PROM器件存在芯片某流片生产批次工艺参数RROLY较差,影响上电复位电路的工作状态,造成部分芯片在上电过程中出现数据丢失问题。另外在E^2PROM选中添加了非易失性测试,发现并解决了E^2PROM早期失效问题。验证试验表明该措施的有效性和可行性。