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金属薄膜电容由于具有良好的自愈性应用广泛,文章主要从介绍传统的理论寿命计算公式入手,分析如何更为精确有效地构建加速老化的试验剖面,进一步通过实验数据和部分定期使用电容的容值进行数据拟合,建立容值随时间变化的数学模型,并通过数据验证分析,证明该方案能有效地预测电容容值的变化趋势和给定容差范围时预测剩余使用时间。