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使用3D器件模拟了SEU加固单元的多节点翻转(multiple node upset ,MNU)问题.结果表明瞬时悬空节点和电荷横向扩散是MNU的关键原因.对比了MNU和不同存储单元之间的MBU(multiple bit upset) ,发现它们之间的特点存在较大差异.最后讨论了避免MNU的方法.