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采用树脂包埋技术，以AtRabD2b共抑制植株死亡发生茎段为实验材料，制备半薄切片和超薄切片，观察突变体茎段死亡的细胞学特征。结果表明：（1）共抑制植株茎细胞的死亡首先在表皮细胞层中发现，然后向切片圆周两侧以及内侧细胞蔓延。（2）共抑制植株茎细胞出现染色质边缘化、叶绿体内囊体片层膜数目减少、细胞器成分被液泡吞噬等异常现象。这些细胞学特征暗示共抑制植株茎段发生了细胞程序性死亡，由此推断AtRabD基因对拟南芥茎顶端细胞的生长有重要的维持作用。