一种测量次级中子能谱的新方法

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采用双飞行时间法创建了一台非常规快中子飞行时间谱仪,排除了用D(d,n)^3He中子源测量8-13MeV能区次级中子双微分截面时源中破裂中子群对次级中子能谱测量的干扰,结合常规快中子飞行时间谱仪的测量,实现了用D(d,n)^3He中子源开展8-13MeV中子能区次级中子双微分截面的测量。
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