原子力显微镜与x射线光电子能谱对LiBq4/ITO和LiBq4/CuPc/ITO的表面分析

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利用原子力显微镜对8-羟基喹啉硼化锂(LiBq4)/铟锡氧化物和8-羟基喹啉硼化锂/酞菁铜(CuPc)/铟锡氧化物表面分别进行了扫描,显示了LiBq4在不同衬底上的形貌差异,并进一步利用样品表面的x射线光电子能谱图验证了这一差异.实验表明,CuPc层的加入改善了LiBq4的成膜质量,并将这种改善归因于分子构型与电子亲和势的不同. Scanning of the surface of LiBq4 / indium tin oxide and 8-quinolinolato lithium / copper phthalocyanine (CuPc) / indium tin oxide with an atomic force microscope respectively showed that LiBq4 This difference was verified by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) on different samples.Experiments showed that the addition of CuPc layer improved the quality of LiBq4 films and attributed this improvement Different in molecular configuration and electron affinities.
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