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用天津大学声波测并实验室研制的压电晶体导纳仪与安捷伦的4294A阻抗分析仪分剐测量了14个压电晶体。直观地对比了所测量的导纳圆的位置和大小，电导、电纳随频率的变化曲线。并进一步用谐振频率、静态电阻和动态电阻等参数进行了对比，描述了两种仪器所测量的数据之间的差异：导纳仪所测量的压电晶体的谐振频率与阻抗分析仪测量的谐振频率接近，相对误差小于；静态电阻和动态电阻的测量结果差别较大，与阻抗分析仪相比，其测量值为阻抗分析仪测量值的1／3—1／2，动态电阻为阻抗分析仪测量值的1．58倍。