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引言信息技术设备在正常使用过程中,不应产生过高的温度,以避免对人体的灼伤、设备绝缘等级下降和安全元器件性能降低,甚至着火等危险。本文通过分析信息技术设备的发热原理和GB 4943.1-2011《信息技术设备安全第1部分：通用要求》对发热的要求,重点介绍了热电偶法,并以开关电源温升比对试验为实例,分析并总结了影响温度测试试验结果的若干因素。