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透射电镜的长度标尺或公称放大倍数是判断试样中组织细节尺寸的依据，需要应用纳米级长度标样进行校准。本文介绍了一种用石墨制备透射电镜专用纳米尺度标样的方法，对石墨的X射线衍射分析以及对石墨标样的TEM高分辨像和电子衍射分析表明，标样中石墨的高分辨像为（002）晶面的点阵像，其晶面间距为0．342nm，可作为纳米尺度的参照材料。本文对使用纳米尺度标样校正ETEM标尺的基本方法进行了简要讨论。