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采用膜片钳细胞贴附式技术,观察和记录了32℃、37℃和39℃时下丘脑神经元电压依赖性K^+单离子通道(Kv)的活动,探讨Kv簇状开放(Burst opening)与开放概率的关系。结果表明,温度升高时,单位时间内记录到的Burst开放明显增多,开放概率NPo从37℃时的0.175±0.124升至39℃时的0.696±0.187(P<0.01)。明显影响NPo的Burst开放有关参数包括Burst内部的开放 数目和两个Burst开放的间期,温度升高,Burst开放内部开放数目增多