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为了提高模拟VLSI电路的测试精度,提出了一种基于数字信号处理的模拟VLSI电路测试方法，将测试响应经余弦调制实现的数字滤波器组完成子带滤波,随后对各子带滤波序列进行能量计算和相关分析,实现模拟响应的数字特征提取，对国际标准电路中的19个故障的实验表明：子带滤波序列的能量计算适合诊断硬故障； 相关分析既可诊断硬故障,又可诊断软故障，实验还表明该方法对故障的分辨率远高于文献[7]。