二维嵌套光子晶体点缺陷耦合腔波导慢光带宽研究

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在完美光子晶体晶格中嵌套半径较小的光子晶体晶格,在中心处构造点缺陷,构成二维嵌套光子晶体点缺陷耦合腔。通过优化调节点缺陷水平和垂直方向四个介质柱的位置增加带宽。利用平面波展开法进行仿真,结果表明:可以在保证10-3c的慢光前提下,相对带宽达到0.000 51,NDBP(归一化延迟带宽积)均能保持在0.34以上;当垂直方向介质柱位移距离为0.4 a时,NDBP值达到了0.404。与未嵌套二维光子晶体点缺陷耦合腔相比,速度相近时,带宽增加了0.000 17。 In the perfect photonic crystal lattice nested photonic crystal lattice smaller radius, at the center of the structure of point defects, constitute two-dimensional nested photonic crystal point defect coupling cavity. Increase the bandwidth by optimizing the position of four dielectric columns in the horizontal and vertical adjustment points. The simulation results using plane wave expansion method show that the relative bandwidth can reach 0.00051 and NDBP (normalized delay bandwidth product) can be kept above 0.34 under the condition of slow light of 10-3c. When the vertical dielectric column displacement When the distance is 0.4 a, the NDBP reaches 0.404. Compared with the uncoated two-dimensional photonic crystal point-defect coupling cavity, the bandwidth increases by 0.000 17 when the speed is close to one.
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【摘要】 在电子设备中应用最广泛的是电子元器件,虽然其只是电子设备中最基本的组成部分,但却决定着整个电子系统。在实际的应用过程中,时常产生因为电子元器件出现问题致使整个系统或设备无法正常工作的状况。因此,本文对电子元器件的可靠性进行了具体的分析,并提出了提高电子元器件使用质量的有效方法。  【关键词】 电子元器件 可靠性 系统设备  前言:原有的电子元器件在进行工作的过程中,因為受到内外因素的影响