【摘 要】
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本文研究了高频感应炉熔炼的Mg-Gd-Nd合金在200℃等温时效过程中晶界无析出带（PFZ）的形成和生长。通过透射电镜观察并结合能谱分析发现,晶界PFZ形成初期受空位损耗控制。随着时
【机 构】
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北京工业大学固体微结构与性能研究所
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本文研究了高频感应炉熔炼的Mg-Gd-Nd合金在200℃等温时效过程中晶界无析出带（PFZ）的形成和生长。通过透射电镜观察并结合能谱分析发现,晶界PFZ形成初期受空位损耗控制。随着时效时间的延长,晶界析出相粗化,晶界PFZ的宽度增加,PFZ的成长逐渐转变为受溶质损耗影响。当PFZ中稀土溶质原子浓度近似达到200℃合金中该元素的平衡含量时,PFZ宽度最终达到其极限值,约为275nm。
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