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目的 探讨使用E线检测出的双颌前突患者错He的分类，并对安氏I类双颌前突患者X线头影测量分析研究。方法 对我院放射科现存的部分正畸患者头影测量片，依照片编号次序用E线测评出双颌前突患者110例，统计分类，并对其中60例（男女各30例）I类磨牙关系者进行头影测量描片分析。结果 使用E线检出的双颌前突患者中，安氏I、Ⅱ、Ⅲ类错He分别占70%、27.3%、2.7%。结论 头影测量显示安氏I类双颌前突患者主要表现为以切牙唇倾、唇部组织丰满突出为主。过大的SNA、SNB不是形成患者侧貌较突的主要原因。