上颌磨牙腭侧双根发生率及解剖特征的锥形束CT研究

来源 :中华口腔医学杂志 | 被引量 : 0次 | 上传用户:boriszhou
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目的 利用锥形束CT观察上颌磨牙腭侧双根的发生率及解剖结构特征,以期为临床提供参考.方法 收集528例(1957颗上颌磨牙)锥形束CT的临床三维影像资料,记录患者年龄、性别、观察牙位及腭根数目,观察腭侧双根的发生率、解剖特征及腭侧双根与性别、观察牙位等因素的关系.结果 上颌磨牙腭侧双根的发生率为0.72% (14/1957),上颌第二磨牙腭侧双根的发生率[1.12%(11/979)]高于第一磨牙[0.31% (3/978)].上颌腭侧双根的根管口平均距离为(2.84±0.50) mm,近腭根与远腭根牙根长轴夹角平均值为(34.6±16.1)°,均显著大于两颊根的根管口平均距离[(2.15±0.82) mm]和牙根长轴夹角[(21.3±12.2)°](P<0.05).上颌磨牙腭侧双根的发生与性别、左右方位因素无显著相关性(P>0.05).结论 上颌第二磨牙腭侧双根的发生率大于第一磨牙,两腭根的根管口平均距离及两腭根夹角均显著大于两颊根,腭侧双根预备难度大于颊侧双根,需谨防器械分离。

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