AVS反扫描、反量化和反变换模块的一种优化设计

来源 :计算机工程与应用 | 被引量 : 12次 | 上传用户:syh904
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
根据AVS标准中的反扫描、反量化和反变换算法特点提出了一种用于AVS解码芯片中的反扫描、反量化和反变换硬件模块的设计方案,该设计以宏块为单位进行操作,便于集成到整个解码芯片的流水线中。同时,在宏块内实现了8×8子块的流水线操作并进行了优化,在反变换中用RAM代替寄存器堆进行转置操作。综合结果表明,该设计在获得了较高处理速度的同时节省了大量的寄存器和选择器资源。
其他文献
本刊讯:2010年8月,安捷伦科技公司(NYSE:A)宣布推出33521A单通道函数/任意波形发生器和33522A双通道函数/任意波形发生器。33521A和33522A是Agilent33500系列函数/任意波形发生器的新
随着电子设备系统的日益复杂化,依靠单一的推理技术的故障系统已难以满足复杂系统的诊断要求,将多种不同的推理技术结合起来的集成诊断系统,能够充分利用各自的优点,从而提高系统
为了得到造纸过程的精确模型,对造纸过程的开环辨识进行了仿真研究,得到了模型的时间常数与辨识的采样时间有密切的关系和增加采样时间可以提高辨识精度的结论。