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制备了组分xCuFe<,2>O<,4>-(1-x)PbZr<,0.53>Ti<,0.47>O<,3>(其中x=0.1,0.2,0.3,1.0)的磁电复合材料.XRD实验表明,样品中只存在着CuFe<,2>O<,4>和PbZr<,0.53>Ti<,0.47>O<,3>相.利用多功能摆测量了样品在低频下(0.1—6.4Hz)的内耗,同时利用HP 4194A阻抗分析仪测量了样品低频(100Hz—1MHz)的介电损耗,分析了复合物中CuFe<,2>O<,4>和PZT对内耗及介电损耗分别所作的贡献.