切换导航
文档转换
企业服务
Action
Another action
Something else here
Separated link
One more separated link
vip购买
不 限
期刊论文
硕博论文
会议论文
报 纸
英文论文
全文
主题
作者
摘要
关键词
搜索
您的位置
首页
期刊论文
五倍频器倍频效率的影响因素分析
五倍频器倍频效率的影响因素分析
来源 :电子产品可靠性与环境试验 | 被引量 : 0次 | 上传用户:zhangtao707382332
【摘 要】
:
针对I波段窄带五倍频器倍频效率受输入信号功率和外界环境影响较大的问题,就影响倍频器倍频效率的几种因素进行了仿真和分析,提出了提高五倍频器工作效率的几种途径.微波仿真和实测结果表明,在I波段输入信号频率5%带宽范围内,输入功率为10~12 dBm时,倍频损耗小于18 dB.
【作 者】
:
郭彬
【机 构】
:
中国电子科技集团公司第十三研究所,河北 石家庄 050051
【出 处】
:
电子产品可靠性与环境试验
【发表日期】
:
2022年1期
【关键词】
:
五倍频器
倍频效率
影响因素
仿真分析
下载到本地 , 更方便阅读
下载此文
赞助VIP
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
针对I波段窄带五倍频器倍频效率受输入信号功率和外界环境影响较大的问题,就影响倍频器倍频效率的几种因素进行了仿真和分析,提出了提高五倍频器工作效率的几种途径.微波仿真和实测结果表明,在I波段输入信号频率5%带宽范围内,输入功率为10~12 dBm时,倍频损耗小于18 dB.
其他文献
PCB板高温高湿偏置试验后的失效分析
针对PCB板在高温高湿偏置试验后的失效问题进行了分析.详细地介绍了分析的过程和手段,包括形貌观察、电参数测试、声学扫描检测、扫描电镜、能谱分析和离子色谱分析等分析手段,获得了导致PCB板漏电失效的原因是由于Cl-的电化学腐蚀和电化学迁移,内部芯片存在分层现象,使得水汽进入芯片内部,发生爆米花效应,内键合线拉脱,芯片电连接不良而失效.
期刊
高温高湿偏置试验
电化学腐蚀
爆米花效应
失效分析
多源试验数据重构与融合存储技术研究
针对国内航空发动机试验数据的属性单一、数据割裂和独立存储等问题,开展多源数据重构技术及数据库融合技术研究,重点突破多维试验数据的模板化抽取、数据升维、数据重构和数据融合存储等关键技术,以满足航空企业的多源数据升维、重构和融合存储等需求,为航空工业企业由传统制造业向数字化、智能化、网络化的工业企业战略转型升级提供驱动力,优化资源配置.
期刊
多源试验数据
模板化抽取
数据升维
数据重构
数据融合存储
FPGA内部资源测试探讨
FPGA功能的稳定与可靠对于其应用至关重要.根据FPGA内部结构特点将其分为可配置逻辑模块、输入输出单元、内部互连线路、块RAM、DSP和时钟管理单元,以及其他特殊的功能模块,阐述了主要的FP-GA测试方法并进行简要的比较.通过分析FPGA的典型故障,比如固定型故障、短路故障、开路故障、暂态故障和延迟故障等,归纳了各个模块对应的测试方法,以期能够帮助简化FPGA测试工作,提高FPGA测试效率.
期刊
可编程逻辑阵列
内部结构
故障类型
测试方法
铁氧体环形器的环氧胶工艺试验及选型
铁氧体环形器采用环氧胶粘接零部件,在后续装配过程中会经历中温焊接、汽相清洗及温度冲击等严苛的物理和化学环境,因此选择一款高强度、耐清洗、耐温性较好的环氧胶,对产品的质量和可靠性至关重要.通过一系列工艺试验,为产品选型提供量化数据,确保环氧胶较高的粘接强度,从而提高产品的质量.
期刊
铁氧体环形器
环氧胶
剪切强度
汽相清洗
耐久性
其他学术论文