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电子元器件低频噪声,由载流子微观运动所产生,与电子元器件的缺陷显著相关.基于此,本文建立了电子元器件低频电噪声模型,并介绍了相应的测试参数.重点从偏置技术、放大技术、数据处理等方面,解释了各项噪声测试技术的原理,分析了技术应用价值.最终通过对该技术在电阻器噪声测试中应用效果的观察,证实了技术的价值.