非均匀缺陷环对微波左手材料的影响

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以金属铜六边形开口谐振环 (SRRs)与金属铜线的组合为结构单元 ,研究了三维左手材料中的缺陷效应 .利用电路板刻蚀技术制备了左手材料样品 ,采用波导法测量了SRRs构成的点缺陷和线缺陷对左手材料X波段 (8— 12GHz)微波透射行为的影响 .实验结果表明 ,引入不同尺寸SRRs构成的点缺陷 ,材料谐振峰强度下降 ,最多达 6dB ,相当于原来的 18 6 % ,谐振频率移动 ,通频带宽在 6 30— 72 0MHz范围变化 ;引入不同尺寸SRRs构成三种取向的线缺陷时 ,材料谐振峰强度下降 ,最多达 11dB ,相当于原来的 34 1% ,谐振频率红移、蓝移的情况都存在 ,通频带宽在4 2 0— 870MHz范围变化 ,线缺陷效应明显大于点缺陷的情形 .这是由于缺陷的存在破坏了材料的空间周期性 ,从而引起左手材料与电磁波作用行为的变化 . The combination of metal copper hexagonal split ring resonators (SRRs) and metallic copper wire was used as the structural element to study the defect effect in the three-dimensional left-handed material.The left-handed material samples were prepared by the circuit board etching technique and the SRRs (8-12 GHz) on left-handed material.The experimental results show that the introduction of point defects of SRRs of different sizes reduces the resonant peak intensity of the material up to 6 dB, which is equivalent to the original 18.6%, the resonant frequency is shifted and the bandwidth of the passband varies in the range of 6 30-72 0MHz. The introduction of SRRs of different sizes to form line defects with three orientations decreases the peak resonance intensity of the material up to 11 dB, which corresponds to the original 34 1% , Red shift of the resonant frequency and blue shift all exist, the pass bandwidth changes in the range of 420 to 870 MHz, and the line defect effect is obviously larger than that of the point defect, which is because the existence of the defect destroys the material’s space periodicity Cause left-handed material and electromagnetic wave action behavior changes.
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