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采用方波注入法,对国外某知名公司生产的两个批次的晶体管进行了实验,比较了从CB结反向注入与从EB结反向注入的损伤电压值,发现该类器件的EMP敏感端对与人们一般研究的结论有所不同.
微电子器件方波EMP注入敏感端对的实验研究
【摘 要】
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采用方波注入法,对国外某知名公司生产的两个批次的晶体管进行了实验,比较了从CB结反向注入与从EB结反向注入的损伤电压值,发现该类器件的EMP敏感端对与人们一般研究的结论有
【机 构】
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军械工程学院静电与电磁防护研究所
【出 处】
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军械工程学院学报
【发表日期】
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2004年6期
【基金项目】
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国家自然科学基金
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