论文部分内容阅读
误差会严重影响综合孔径微波辐射计的成像性能,需要进行校正。但是,随着系统工作频率的提高和阵列尺寸的扩大,校正难度越来越大。文中提出一种基于先验信息的综合孔径微波辐射计误差校正方法。该校正方法包括一个基于先验信息的校正矩阵以及一种基于先验信息的CLEAN算法。首先,该校正方法将含有误差的系统响应作为先验信息构造校正矩阵,并校正得到初步的反演图像;然后,利用上述先验信息估计系统的阵列因子并代入基于先验信息的CLEAN算法,校正图像中剩余的误差。仿真和实验结果表明该校正方法能有效提高综合孔径微波辐射计的成