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期刊论文
一种提高扩散氧化炉温度控制精度的方法
一种提高扩散氧化炉温度控制精度的方法
来源 :微电子学 | 被引量 : 0次 | 上传用户:zhiyuanboxue
【摘 要】
:
针对半导体制造流程中氧化、扩散、退火炉的Profile温度控制方法存在温度过冲大的问题,提出了Profile控制+前馈方式控制管内温度的新方法。将该方法应用于Thermco9000扩散炉,使
【作 者】
:
徐朝军
肖可
【机 构】
:
中国电子科技集团公司第二十四研究所
【出 处】
:
微电子学
【发表日期】
:
2009年3期
【关键词】
:
半导体设备
比例积分微分
Profile温度控制
扩散氧化炉
Semiconductor equipment PID
Profile temperature
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针对半导体制造流程中氧化、扩散、退火炉的Profile温度控制方法存在温度过冲大的问题,提出了Profile控制+前馈方式控制管内温度的新方法。将该方法应用于Thermco9000扩散炉,使温度过冲由5℃左右减小到0.5℃以下,且恒温时间从25min减小到20min。
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