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在逆变系统中,电路运行的可靠性是拓扑设计需要考虑的主要指标之一.在电路工作过程中,例如直通或者反向恢复过慢等问题会直接影响一个电路工作的可靠性.Dual-Buck 逆变器能够在不加死区保护的情况下解决以上的问题.但是较低的电感利用率使得整个系统的体积和重量增大.首先总结了几种传统的Dual-Buck 电路拓扑以及一种单电感结构的Dual-Buck 逆变器.然后提出了能够改善基于MOSFET逆变器可靠性的方法.新型的方法在保留传统Dual-Buck 逆变器高可靠性的基础上解决了电感利用率低的问题,而且相比于