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在X-射线荧光光谱分析中，粒度效应对原料分析结果的影响已有报道。当颗粒本身的吸收减至很小时，可以消除某些矿物相的影响。如用不同矿物配置生料，有85％的生料通过200目（75μm）时，A，B两组铁矿石原料中SiO2的强度和浓度呈线性关系；当粒度达到325目（44μm）时，两组铁矿石原料的实验点均落在同一曲线上，因此，研磨粒度将直接影响X-射线荧光光谱的分析结果。本文研究了X-射线荧光光谱法分析烧结矿的粒度效应。