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高过载测试电路必须满足高速测试的特点，文中对电阻、电容、电感及二极管等电子元器件的特征参数测试的方法进行了分析，在电子元器件的高过载实验中，设计出了相应的测试电路。通过实验验证了这些测试电路能达到预期的要求．为引信系统在高过载条件下的可靠性分析打下了坚实的基础。
高过载下电子元器件测试方法研究
【摘 要】
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高过载测试电路必须满足高速测试的特点，文中对电阻、电容、电感及二极管等电子元器件的特征参数测试的方法进行了分析，在电子元器件的高过载实验中，设计出了相应的测试电路。通
【机 构】
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中北大学机电工程学院
【出 处】
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弹箭与制导学报
【发表日期】
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2009年5期
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