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包含 Ti 碳膜被使用磁控管 sputteringdeposition.The 作文扔,碳膜的微观结构被联合卢 backscattering 的技术详细描绘 spectrometry (RBS ) , X 光检查光电子光谱学(XPS ) , X 光检查衍射(XRD ) 和传播电子显微镜学(TEM ) 。碳膜在%包含 Ti 18 ,这被发现;在 Ti 加入以后,这些电影由碳化钛组成; C1speak 出现在 283.4 eV 和它能被划分成 283.29 和 284.55 eV ,分别地,代表 sp2