单通道符合正电子湮没多普勒展宽实验技术

来源 :装备制造技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户:hulan2010
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使用Ge-NaI双探头系统,同时用符合技术对信号进行选择,测量出Si的一维符合正电子湮没多普勒展宽谱线,此技术可大幅度降低谱线本底,使得谱线峰高与本底之比大于104。可以直接反映高能端核心电子信息。
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