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在几个恒定磁场中，测量了不同磁场取向下ＹＢａ２Ｃｕ３Ｏ７－δ外延薄膜的电阻转变曲线。实验结果表明，由不同约化电阻判据确定的特征温度Ｔ，有效钉扎势Ｕ以及临界电流密度ＪＣ均随着磁场与膜面的夹角增大而变化，并表现出相同的变化规律。在夹角小于７５范围内，本征钉扎机制起支配作用；而在９０附近，沿ｃ轴方向的二维缺陷等对磁通线的钉扎作用十分明显。